Schadensanalyse an Keramik

Analyse

Schadensanalyse und Prüfverfahren von technischer Keramik in unserem Prüflabor

Sollte es einmal unerwartet zu einem Ausfall der Anlage oder eines Produkts beim Kunden kommen: Wir sind für Sie da! Die Schadensanalyse beschäftigt sich mit der Aufnahme des auftretenden Schadens und untersucht die möglichen Ursachen, sodass Sie schnell wieder im normalen Planzyklus verfahren können.

Kriterien

Prüfung von Keramik nach wissenschaftlichen Kriterien

Unser Vorgehen richtet sich dabei streng nach wissenschaftlichen Kriterien, die eine unabhängige und objektive Bewertung zulassen. Eine Beschreibung und Bestandsaufnahme des vorgefundenen Sachverhalts stellt die Grundlage für die Zusammenarbeit dar. Die daraus geschaffene Hypothese wird dann mittels chemischen und physikalischen Versuchen geprüft und gegebenenfalls angepasst. Am Ende dieses Zyklus steht eine Darstellung des kompletten Sachverhalts bis hin zur vermeintlichen Ursache. Diese Erkenntnisse können nun weiterverwendet werden, um das Problem abzustellen, bzw. den Prozess so anzupassen, dass dieser noch besser in Ihrem Sinne abläuft und überprüft werden kann.

Grenzen

Die Grenzen der Schadesanalyse von Keramik

Seit Firmengründung setzen wir, von WZR ceramic solutions GmbH, auf eine langfristige und enge Kundenbindung. Im Laufe des Prozesses werden beiderseits womöglich vertrauliche Informationen ausgetauscht, die für die Analyse und vor allem Interpretation essentiell sind. Die genaue Bewertung erfordert also Ihr Zutun und eine Diskussion, in deren Verlauf die objektiven Ergebnisse auf den Prozess angewandt werden, den Sie im Detail noch besser kennen als wir. Ihre Mithilfe ist von daher ein Grundbaustein. Die Grenzen der Analyseverfahren werden im Einzelnen im Vorfeld mit Ihnen besprochen. Rein gerätebedingt liegen die Grenzen, abhängig von Probenpräparation und -zustand, bei Messfleckgrößen („Messauflösung“) von ca. 3 nm, die maximale Vergrößerung bei 300.000-fach. Die Proben selbst können bis zu Größen von 150 mm Durchmesser und Höhen von bis zu ca. 40 mm in das Rasterelektronenmikroskop eingebracht und beobachtet werden. Je nach Beschaffenheit der Proben ist hier eine Präparation auf die gewünschten Bereiche oder geeignete Größen notwendig.

Ansprechpartner

Martin Witscher